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標(biāo)準(zhǔn)樣品的均勻性是標(biāo)準(zhǔn)樣品的基本性質(zhì)。均勻性即是物質(zhì)的一種或幾種特性具有同組分或相同結(jié)構(gòu)的狀態(tài)。檢驗(yàn)規(guī)定大小的樣樣品，若被測(cè)量的特性值在規(guī)定的不確定度范圍內(nèi)，則該標(biāo)準(zhǔn)樣品對(duì)這一特性值來(lái)說(shuō)是均勻的。不論在制備標(biāo)準(zhǔn)樣品過(guò)程是是否經(jīng)過(guò)均勻性初驗(yàn)，凡成批制備并分裝成最小包裝單元的標(biāo)準(zhǔn)樣品，必須進(jìn)行均勻性檢驗(yàn)。由大包裝分裝成最小包裝單元時(shí)，也需進(jìn)行均勻性檢驗(yàn)。這是制備標(biāo)準(zhǔn)樣品過(guò)程中的程序，也是確保標(biāo)準(zhǔn)樣品定值準(zhǔn)確的最基本條件。

標(biāo)準(zhǔn)樣品的均勻性檢驗(yàn)
進(jìn)行均勻性檢驗(yàn)的目的是：一方面通過(guò)均勻性檢驗(yàn)說(shuō)明特性值在各個(gè)部位之間是否均勻，另一方面要了解特性值在不同部位之間不均勻的程度，進(jìn)而判斷不均勻性程度是否可以接受，標(biāo)準(zhǔn)樣品是否可以使用。

1.1 均勻性檢驗(yàn)抽樣數(shù)目的確定和取樣方式
為了檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)樣品的均勻性，通常從包裝好的總體樣本中隨機(jī)抽取一定量的樣品，儀器用標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以從不同部位取樣。所取的樣品數(shù)取決于總體樣品的單元數(shù)和對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的均勻程度的了解，當(dāng)已知總體樣品均勻性良好時(shí)(從冶煉、加工等技術(shù)上判斷），抽取的樣品數(shù)可適當(dāng)減少。抽取樣品數(shù)以及每個(gè)樣品的重復(fù)測(cè)量次數(shù)還應(yīng)適合所采用的統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)要求。一般抽取的單元樣品數(shù)不得少于15（套），當(dāng)N>500時(shí)，抽取數(shù)為2倍N的3次方，N為總體單元數(shù)。在均勻性檢驗(yàn)取樣時(shí)，應(yīng)從待定特性量值可能出現(xiàn)差異的部位取樣，取樣點(diǎn)的分布對(duì)于總體樣品應(yīng)有足夠的代表性，應(yīng)滿足規(guī)定的測(cè)定精度要求。

例如，粉狀樣品應(yīng)在不同部位取樣（或用分堆法），對(duì)圓棒狀樣品可在兩端和棒長(zhǎng)的1/4、1/2、3/4部位取樣?，F(xiàn)在研制的儀器用塊狀樣品，可在加工過(guò)程中按材料的不同部位取樣。也可采用隨機(jī)數(shù)表決定抽取樣品的號(hào)碼。

1.2 均勻性檢驗(yàn)測(cè)試方法的選擇
無(wú)論研制何種標(biāo)準(zhǔn)樣品都必須對(duì)有代表性和不易均勻的待測(cè)特性量值進(jìn)行均勻性檢驗(yàn)。在選擇檢驗(yàn)的測(cè)試方法時(shí)，應(yīng)該選擇不低于定值方法的精密度和具有足夠靈敏度的測(cè)量方法，在重復(fù)的實(shí)驗(yàn)條件下做均勻性檢驗(yàn)。所謂重復(fù)條件，即在同一實(shí)驗(yàn)室，同一操作人員，用同一臺(tái)儀器及同一試劑等。只有這樣，才能充分反映出各樣品間的差異，真實(shí)反映出樣品的不均勻性程度，否則無(wú)法判斷是樣品自身的不均勻性，還是由于操作或方法等其它條件造成的誤差致使檢驗(yàn)結(jié)果表現(xiàn)出不均勻性，從而造成錯(cuò)誤的判斷。

在具體測(cè)試均勻性過(guò)程中，由于待定特性量值的均勻性與所用測(cè)量方法的取樣有關(guān)，因此均勻性檢驗(yàn)時(shí)應(yīng)注明該測(cè)量方法的取樣量。當(dāng)有多個(gè)待定特性量值時(shí)，以不易均勻的待定特性量值的最小取樣量表示該標(biāo)準(zhǔn)樣品的最小取樣量，并在標(biāo)準(zhǔn)樣品證書(shū)中注明，以便用戶使用。

由于均勻性檢驗(yàn)的工作量較大（一般20瓶或20塊），以隨機(jī)次序進(jìn)行測(cè)定，可防止系統(tǒng)的時(shí)間偏差。對(duì)儀器分析用標(biāo)準(zhǔn)樣品，在進(jìn)行均勻性檢驗(yàn)時(shí)，儀器產(chǎn)生的偏移所帶來(lái)的誤差常超過(guò)方法本身的精密度，因此要特別注意隨機(jī)化。

由上可知，若通過(guò)實(shí)驗(yàn)手段測(cè)量不出特定值在各個(gè)部位之間的差異，或測(cè)出的差異在允許的范圍內(nèi)，則認(rèn)為標(biāo)準(zhǔn)樣品是均勻的。不言而喻，實(shí)驗(yàn)手段應(yīng)是靈敏度、精密度都高的方法，所以均勻性的檢驗(yàn)包含著標(biāo)準(zhǔn)樣品的不均勻性和測(cè)試方法精密度兩個(gè)方面，因此均勻性檢驗(yàn)方法的選擇是非常重要的。

1.3 均勻性檢驗(yàn)的統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)
標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)準(zhǔn)性檢驗(yàn)數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法很多，有方差分析法、極差法、t檢驗(yàn)法、平均值一致性檢驗(yàn)法、“三分之一"檢驗(yàn)法。近幾年來(lái)，大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)樣品的研制者都采用充分利用測(cè)試數(shù)據(jù)信息的方差分析法。方差分析法有兩種統(tǒng)計(jì)方法：

（1)抽取一定數(shù)量的樣品，每個(gè)樣品獨(dú)立測(cè)試兩次以上，測(cè)量次數(shù)相同n1=n2=……＝n,按下列公式進(jìn)行統(tǒng)計(jì)：
式中：Q1——組間方差和；
Q2——組內(nèi)方差和；
F——統(tǒng)計(jì)量；
V1——自由度，V1=m-1；
V2——自由度，V2＝Ｎ－m；
m——測(cè)量的樣品數(shù)；
N——測(cè)量的總體數(shù)據(jù)數(shù)；
SL——樣品不均勻方差；
n——測(cè)量次數(shù)。

（2)抽取一定數(shù)量的樣品，每個(gè)樣品測(cè)量一次，其中一個(gè)樣測(cè)量n次。
2　2F=S1/S2
2式中：S1　——N瓶樣品，每瓶樣品測(cè)量一個(gè)數(shù)據(jù)的瓶間方差；
2S2——隨機(jī)樣品測(cè)量n次的瓶?jī)?nèi)方差（n一般在10次以上）。